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场发射扫描电镜的性能特点介绍,真的很全!

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  场发射扫描电镜搭载*的实时元素成像功能和先进的自动光学系统,实现灰色区域解析,让您不再忧心显微镜性能,更加专注于研究本身。扫描电镜具有多功能性和高质量成像性能,采用了创新性的末级透镜设计,引入静电式末级透镜,支持镜筒内高分辨率检测,即使是针对磁性样品也可实现成像及分析性能。在原有性能基础之上,进一步优化了超高分辨成像能力,并且增设许多新功能提升其易用性。
 
  场发射扫描电镜在耐用的SEM平台上引入了智能对中技术,不再需要用户手动进行调整操作,而且,FLASH自动执行精细调节工作,只需移动鼠标几次,就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦矫正。此外,扫描电镜的工作距离不再意味着低分辨成像,系统还可升级实时元素谱/图成像功能,*改变了几十年来传统SEM-EDS固有的元素分析流程,将元素分析效率提升。任何用户都可以轻松地得到的分析效果。
 
  场发射扫描电镜的性能特点:
 
  1.全面解析:全面的纳米和亚纳米分辨率性能,适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料;
 
  2.灵活性:非常灵活的处理范围广泛的样品类型,包括绝缘体,敏感材料,或磁性样品,并收集对您的应用重要的数据;
 
  3.SmartAlign技术:使用SmartAlign技术(智能调整光学系统),实现光学系统自动调整,减少维护时间;
 
  4.先进的自动化:先进的自动化包括FLASH自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH技术;
 
  5.实时定量EDS:元素信息触手可及,利用ColorSEM技术,提供实时元素面分布成像定量分析,结果获取更加快速、简便;
 
  6.标准工作流操作:内置了用户工作流功能,无论是初学者还是经验丰富,都能够快速上手,并稳定获取实验数据。

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