• 蔡司裂变径迹显微分析系统

    蔡司裂变径迹显微分析系统:对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计;能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值,依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。

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    产品日期:2020-05-20
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